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BeVision D2

ダイナミック画像解析粒度分布計(乾式分散タイプ)

BeVision D2画像解析式粒度分布計は、粗い粒子やミリメートル範囲の粉末材料の非破壊測定用の顕微鏡画像粒子径および粒子形状アナライザーです。 BeVision D2粒子径分析装置の高速CCDカメラとマルチスレッドソフトウェアは、粒子をすばやく識別し、安定した正確な測定結果を取得します。
  • 測定:粒子形状、粒子サイズ
  • 粒度範囲:
  • ドライ:30µm〜10000µm
  • 分散タイプ:乾式分散
  • テクノロジー:自動イメージング



概観

  • 特徴
  • パフォーマンス
  • 技術
  • 仕様
  • 問い合わせ
  • No.9, Ganquan Road, Jinquan Industrial Park, Dandong, Liaoning, China.
    No.9, Ganquan Road, Jinquan Industrial Park, Dandong, Liaoning, China.
  • 86-415-6163800
    86-415-6163800