Name: Bettersizer S3 Plus
Brand: Bettersize Instruments Ltd.

1つのデバイスによる完全な粒子径および粒子形状分析

ユニークで革新的な設計のおかげで、Bettersizer S3 Plus粒度分布測定装置は、「レーザー回折」や「動的画像分析」などの粒子サイズ測定方法の利点を組み合わせています。ナノメートルからミリメートルまでの粒子径試験および粒子形状解析の包括的かつ正確な特性評価を提供します。

Bettersizer S3 Plus

Bettersizer S3 Plus粒度分布測定装置は、レーザー回折と自動イメージングをシームレスに組み合わせて、0.01〜3500μmの広いサイズ範囲を達成できるだけでなく、さまざまなバルク材料のすべてのサイズおよび形状パラメーターを分析できます。信頼性の高いパフォーマンスと使いやすい操作モードにより Bettersizer S3 Plus粒子径分布測定装置は、材料の特性評価を必要とする研究に最適です。
•測定：粒子径分布と粒子形状
•0.01〜3500µmの粒子径
•2〜3500µmの粒子形状
•分散タイプ：ウェット
•テクノロジー：レーザー回折+自動イメージング
•自動屈折率測定
•特許取得済みのデュアルレンズテクノロジー：DLOIOSを使用した小粒子（10 nmから）の正確な測定
•最大3.5 mmの画像技術による大きな粒子の検出
•新しい材料の標準操作手順の実装、作成、使用が簡単
•光学システムの自動調整
•ユーザーフレンドリーなソフトウェア、簡単に学ぶ
•革新的なデュアルレンズテクノロジー（DLOIOS）
-10 nmからの微粒子の正確な測定
-連続散乱スペクトル用の単一レーザー技術
•統合されたカメラ技術
-粗い粒子測定のより高い精度
-個々の大きな粒、塊、気泡の検出
•1つのデバイスによる粒子径分布と粒子形状の分析

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型番	Bettersizer S3 Plus	Bettersizer S3
粒度測定範囲	0.01-3500μm	0.01-3500μm
粒子形状測定範囲	2-3500μm	100-3500μm
測定方法	-レーザー回折：DLOIOS -自動イメージング：0.5倍レンズと10倍レンズ	-レーザー回折：DLOIOS -自動イメージング：0.5倍レンズと10倍レンズ
分散システム	ぬれた	ぬれた
屈折率測定	はい	はい

概観

特徴
パフォーマンス
技術
仕様
問い合わせ

1）Bettersizer S3 Plus粒子径分布計の概要
Bettersizer S3 Plus粒度試験装置は、測定対象のサンプルの画像をキャプチャするために2台の高速CCDカメラ（0.5Xおよび10X倍率）をさらに備えたレーザー回折粒度分析装置です。
測定中、選択した媒体に分散している粒子は、2つの測定キュベットにポンプで送られます。最初に、短波長レーザー光（532 nm）はサンプルを通過し、粒子サイズに応じて散乱します。 96個の検出器は、0.02°〜165°の角度範囲で光信号を検出します。
CCDカメラは、2番目のキュベットを介して連続的に写真を撮り、2〜3500 µmの範囲の粒子の画像分析を提供します。

Bettersizer S3 Plus particle size analyzer overview

2) 特許取得済みのデュアルレンズテクノロジー-DLOIOS
DLOIOSは、フーリエ光学系をベースにBettersizeが特許を取得した新技術です。
レーザーとサンプルセルの間に追加のレンズ（レンズ2）を配置すると、発散したレーザービームが平行ビームに変換され、後方散乱光を検出できます。
1つのレーザーのみを使用すると、一貫した波長、斜めの光の入射で連続的なスペクトラム拡散が得られ、この特別な設計により、0.02°〜165°の角度範囲で検出できます。 DLOIOSテクノロジーは、10 nmから3500ミクロンのサイズ範囲の粒子の信頼性の高い測定を保証します。
CCDカメラ技術
Bettersizer S3 Plus粒度分布装置の光学イメージングシステムは、2つの高速カメラと高精度テレセントリックレンズで構成されており、光学的スミアリングなしで1分あたり10,000個を超える粒子をキャプチャして評価することができます。両方のカメラを個別に、または同時に使用して、画像分析用のサンプルを観察できます。

3）ISO 13320に準拠したレーザー回折法
微粒子（ナノメートル、サブミクロン、ミクロン）の粒子径分布は、DLOIOS技術で正確に決定されます。幅広い散乱光測定範囲（0.02°-165°）は、多数の検出器（96）とともに実現されます。
評価は、粒子径と光学特性に依存するフラウンホーファーまたはMie理論に基づいています。
粒子サイズ測定に役立つツールには、分散効率を確認するための視覚補助としての2台のカメラと、光学パラメーターが不明な材料の屈折率測定ツールがあります

4）組み合わせた方法：レーザー回折による動的画像解析
粒子径の範囲が広く、粗い粒子を含むサンプルの場合、レーザー回折の測定と0.5X CCDカメラの組み合わせをお勧めします。 Bettersizer S3 Plusレーザー散乱粒子径分析装置は、微細な母集団の存在下で3％未満の大きな粒子も検出できます。

5）粒子径形状測定
粒子径形状分析には、0.5Xと10Xの2つの高速CCDカメラを利用できます。それらは2〜3500 µmの粒径範囲をカバーします。粒子形状分析は、粒子径が4 µmより大きい場合に使用されます。測定中、粒子は継続的に撮影され、評価され、10,000粒子/分の速度で統計的に分類されます。カメラは個別に、または組み合わせて使用できます。
標準の等価直径（表面積、最大（L）、最小（D））に加えて、アスペクト比、長さ/幅D、真円度、真円度、粒子の周囲長などの特別なパラメーターが計算されます。

6) Bettersizer S3 Plus粒子径分布装置のアプリケーション

Application of Bettersizer S3 Plus particle size analyzer

インテリジェントな粒子サイジング性能
Bettersizer S3 Plusレーザー粒子径分布装置は、粒子径分布と形状測定の新時代を定義し、長年の経験の集大成として、粒子サイジングと形状分析機器が卓越しています。

正確さ

Bettersizer S3 Plusレーザー粒子径分析装置の精度は、8つの標準サンプルの測定によって検証されています。
再現性

Bettersizer S3 Plusレーザー粒子径分布装置は、幅広い分布範囲のサンプルを測定します。次のグラフに示すように、同じ分析条件下で6回繰り返し測定した結果、良好な再現性が得られます。 D50の平均再現性偏差は0.31％です。
解像度

検出限界テスト：3.1µmと5.1µmの公称直径の混合参照標準サンプルを使用して、業界のベンチマーク粒子径分析装置に対するBettersizer S3 Plus粒度分析装置の分解能を測定しました。テストには1.65の混合比を使用しました。 Bettersizer S3 Plus粒子径分析装置は、以下のグラフに示すように、ベンチマーク測定器を明らかに解決します。
感度

テスト方法：ベンチマーク機器に対して、0.3mm、0.85mm、および3.5mmの混合参照標準サンプルで測定を行いました。 Bettersizer S3 Plusレーザー回折粒子径分析装置は測定結果の3つのピークを分析しますが、ベンチマーク測定器は2つのピークしか分析できません。

Bettersizer S3 Plus
測定原理：	レーザー回折+動の画像解析
分析理論：	MieまたはFraunhofer
アプリケーション：	懸濁液、乳濁液、乾燥粉末
測定範囲：	0.01-3500 µm
サイズクラスの数：	> 100 /個別にカスタマイズ
通常の測定時間：	<10秒
精度エラー/繰り返しエラー/再現性エラー：	<0.5％/ <0.5％/ <1.0％（GBRM D50）
循環/分散/ボリューム：	遠心ポンプ/超音波（50 W）/ 600 ml
レーザー：数/タイプ/波長/パワー/クラス：	1 /レーザーダイオード（DPSSL）/532 nm（緑/5 mW/クラス1
レンズ：デザイン/配置：	F-シータ/デュアルレンズフーリエ光学、斜め入射
有効焦点距離：	223 mm、画像解析：110 mm
検出器チャンネル/角度範囲：	96（前方、側方、後方）/ 0.02°-165°
特別な機能：	粒子形状（L / D、真円度など）、屈折率
適合：	21 CFRパート11、ISO 13320、CE
データのエクスポート：	Excel、PDF、Word、JPGなど
寸法/重量：	820 x 650 x 320 mm（長さx幅x高さ）/ 30 kg
推奨オペレーティングシステム：	Windows 7以降、Intel Core i5、4 GB RAM、USB 2.0