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1つのデバイスによる完全な粒子径および粒子形状分析

ユニークで革新的な設計のおかげで、Bettersizer S3 Plus粒度分布測定装置は、「レーザー回折」や「動的画像分析」などの粒子サイズ測定方法の利点を組み合わせています。 ナノメートルからミリメートルまでの粒子径試験および粒子形状解析の包括的かつ正確な特性評価を提供します。

Bettersizer S3 Plus

レーザー回折・散乱法と粒子形状解析装置

Bettersizer S3 Plus粒度分布測定装置は、レーザー回折と自動イメージングをシームレスに組み合わせて、0.01〜3500μmの広いサイズ範囲を達成できるだけでなく、さまざまなバルク材料のすべてのサイズおよび形状パラメーターを分析できます。 信頼性の高いパフォーマンスと使いやすい操作モードにより Bettersizer S3 Plus粒子径分布測定装置は、材料の特性評価を必要とする研究に最適です。
•測定:粒子径分布と粒子形状
•0.01〜3500µmの粒子径
•2〜3500µmの粒子形状
•分散タイプ:ウェット
•テクノロジー:レーザー回折+自動イメージング
•自動屈折率測定
•特許取得済みのデュアルレンズテクノロジー:DLOIOSを使用した小粒子(10 nmから)の正確な測定
•最大3.5 mmの画像技術による大きな粒子の検出
•新しい材料の標準操作手順の実装、作成、使用が簡単
•光学システムの自動調整
•ユーザーフレンドリーなソフトウェア、簡単に学ぶ
•革新的なデュアルレンズテクノロジー(DLOIOS)
-10 nmからの微粒子の正確な測定
-連続散乱スペクトル用の単一レーザー技術
•統合されたカメラ技術
-粗い粒子測定のより高い精度
-個々の大きな粒、塊、気泡の検出
•1つのデバイスによる粒子径分布と粒子形状の分析

型番

Bettersizer S3 Plus

Bettersizer S3

粒度測定範囲

0.01-3500μm

0.01-3500μm

粒子形状測定範囲

2-3500μm

100-3500μm

測定方法

-レーザー回折:DLOIOS
-自動イメージング:0.5倍レンズと10倍レンズ

-レーザー回折:DLOIOS
-自動イメージング:0.5倍レンズと10倍レンズ

分散システム

ぬれた

ぬれた

屈折率測定

はい

はい



概観

  • 特徴
  • パフォーマンス
  • 技術
  • 仕様
  • 問い合わせ
  • No.9, Ganquan Road, Jinquan Industrial Park, Dandong, Liaoning, China.
    No.9, Ganquan Road, Jinquan Industrial Park, Dandong, Liaoning, China.
  • 86-415-6163800
    86-415-6163800